La « Look-up Platform » est une fonction de la plateforme logicielle DigID qui offre aux utilisateurs un moyen pratique de récupérer des informations et des données historiques associées à des micropuces ou à des composants semi-conducteurs spécifiques. Elle donne instantanément l’ID du wafer et l’emplacement X-Y d’où provient la puce. Voici une explication du fonctionnement de la plateforme de recherche et de ses principales fonctionnalités.

Les utilisateurs peuvent télécharger une image ou saisir des données pertinentes relatives à une puce ou à un composant semi-conducteur dans la plate-forme de consultation.
La plateforme interroge sa base de données, recherchant des correspondances ou des informations connexes sur la base des données téléchargées.
Une fois la recherche terminée, la plateforme récupère le code ou l’identifiant correspondant à la micropuce en question.
Outre le code, la plate-forme de consultation donne accès à des données historiques sur la micropuce.
Ces données comprennent généralement des informations sur les différentes étapes de production et de traitement de la puce, telles que l’identification, la fabrication, la découpe, l’emballage, etc.

La plateforme de consultation améliore la traçabilité en permettant aux utilisateurs de retracer l’historique et le parcours de chaque puce.
Cela est particulièrement utile dans les scénarios où le contrôle de la qualité et l’intégrité du produit sont essentiels.
Il est intéressant de noter que la présentation mentionne que des efforts sont en cours pour améliorer la fonctionnalité liée au téléchargement de fichiers et à l’historique associé aux micropuces.
Cela suggère un engagement à affiner et à améliorer l’expérience de l’utilisateur.

En résumé, la plate-forme Look-up de la plate-forme logicielle DigID constitue un outil puissant pour les utilisateurs de l’industrie des semi-conducteurs, leur permettant d’accéder rapidement aux codes d’identification et aux données historiques détaillées concernant les micropuces individuelles.
Cette fonctionnalité améliore la traçabilité, le contrôle de la qualité et la capacité à gérer et à contrôler efficacement les composants des semi-conducteurs.